目 錄
第 1 章 序言 5
1.%2 聲明 5
2.%2 安全 5
3.%2 功 能 特點 5
4.%2 指標 6
5.%2 約定 7
第 2 章 儀器的使用 8
1.%2 儀 器 概述 8
1.1.%3 儀器 各 部分名稱 8
1.2.%3 操作 鍵 盤說明鍵盤 布 局合理 ， 常 用鍵位于近 左 手大拇指的 方 位 。 左手 保持 自然放置狀態即可 方 便的 調整儀器的所有設 置 。 8
1.3.%3 電源 使 用 9
1.3.1.%4 使用交流供電設備供電9
1.3.2.%4 使用電池工作10
2.1.4 探頭 連 接 10
%1.2 儀 器 操作 10
2.1.%3 儀器 基 本操作步驟 10
2.2.%3 啟動 儀 器 11
2.3.%3 屏幕 顯 示說明 11
2.3.1.%4 功能顯示項11
2.3.2.%4 其它指示標志說明12
2.4.%3 功能 概 述 12
2.5.%3 基本 操 作方法 13
2.5.1.%4 功能操作舉例13
第 3 章 功能說明 及 操作方法 14
1.%2 基 本 組功能調節 14
1.1.%3 探測 范 圍 14
1.2.%3 材料 聲 速 14
1.3.%3 脈沖 移 位 15
1.4.%3 工件 厚 度 15
%1.2 探 頭 組功能調節 15
2.1.%3 探頭 方 式 / 探測位置 15
2.2.%3 折射 角 度 / 探頭 K 值 16
2.3.%3 探頭 前 沿 / 探頭零點 16
2.4.%3 工件 直 徑 / 標度方式 17
%1.%2 通 道 組功能調節 17
3.1.%3 探傷 通 道 17
3.2.%3 通道 復 制 18
3.3.%3 設置 保 存 / 設置修改 18
3.4.%3 設置 刪 除 18
%1.%2 存 儲 組功能調節 19
3.4.1 組號 19
3.4.2 調出 19
第 1 章 序言
感謝您使用本公司的產品，您能成為我們的用戶，是我們莫大的榮幸。是本公司推出的一款智能型數字 式超聲波探傷儀，采用了國際的數字集成技術和新型 EL 顯示技術，其各項性能指標均達到或超過水平，在國際上也處于前列。儀器采用人工智能技術，功能強勁，使用方便。為了使您能盡快的掌握的 操作過程，我們隨機配備了內容詳盡的操作手冊，請您務必在使用機器前仔細閱讀本手冊及隨機配備的其他 資料，這會對您熟悉產生必要的幫助。
1.%2 聲明
因版權所有，未經本公司書面許可不得翻印或以其它方式或手段使用本操作手冊中的任何部分。本公司 對因非法使用本操作手冊中所含資訊所造成的損害概不負責。本公司有權改變此操作手冊之特征及內容，恕 不征求意見或事先通告。
2.%2 安全
請勿在重塵、潮濕、強磁場、油污或腐蝕環境使用本儀器。 嚴禁用具有溶解性的物質擦拭外殼。
使用本公司提供的電源對儀器進行充電。
儀器長期不工作時，應定期進行充放電，建議每月一次。
與外部設備（打印機、PC 機）連接時，必須在關掉儀器電源后進行。請勿擅自拆裝本儀器，如遇修理事宜請與經銷商或本公司聯系。
儀器應存放在干燥清潔的地方，避免強烈振蕩。
3.%2 功能特點
? 測量顯示方式：A 型顯示方式；
? 具有線性抑制功能，抑制為屏高的 80%；
? 可以在單晶探頭，雙晶探頭、兩種探傷工作方式之間任意切換；
? 具有閘門設置和報警功能。能夠在屏幕上任意設置閘門的位置和寬度，并可以設置進波報警；
? 具有 500 個獨立探傷通道，每個通道單獨設置一組探傷參數、DAC 曲線。
? 具有角度和 K 值兩種顯示方式；
? DAC 曲線自動生成，最多可記錄 10 個點，四條附加可調偏置曲線；
? AVG 曲線自動生成，可定制兩種類型缺陷；
? 探頭自動校準功能；
? 具有存儲功能，可以存儲 100 幅 A 掃圖形、參數及 DAC 曲線;
? 具有存儲圖形的回放功能，將已存儲的 A 掃圖形從存儲區取出并顯示在屏幕上；
? 具有刪除功能，將的內容（以存儲組號表示）從存儲區刪除；
? 具有峰值記憶功能；
? 具有波形和探傷參數的凍結和解凍功能；
? 具有聲程測量、回波次數分析功能；
? 具有實時的電源狀態指示功能；
? 支持無線通訊；
? 能夠跟 PC 機通訊，可以將測量數據和系統設置參數上傳給 PC 機，以便進行進一步處理（如生成探傷報告、打印等）；
? 可利用 PC 端通訊軟件升級儀器的功能；
? 鋰電池，低功耗，連續十小時工作。
? 操作過程可設置蜂鳴器提示音；
? 輕小便捷，易于操作。
4.%2 指標
的各項性能指標及技術參數見下面表格中所示：
| 名稱 | 技術數據 |
|
掃描范圍（mm） | 掃描范圍（mm）：0～10000 檔級：2.5,5,10,20, 30,40,50,60,70,80,90, 100,150,200, 250, 300, 350, 400, 450, 500,600,700,800,900,1000,2000,3000,4000,5000,6000,7000,8000,9000, 10000。 調節步距： 1mm |
|
脈沖移位（?s） | 脈沖移位（?s）：-20～+3400 檔級：-20,-10,0.0, 10, 20, 50,100,150,200,250,300,350,400,450,500, 600, 700,800,900,1000,1500,2000,2500,3000,3400。 調節步距：0.1（-20?s～999.9?s），1（1000?s～3400?s） |
| 探頭零點（?s） | 探頭零點：0.0～99.99 調節步距：0.01 |
|
材料聲速（m/s） | 材料聲速：1000～15000 7 個固定聲速：2260,2730,3080,3230,4700,5900,6300 調節步距：1 |
| 工作方式 | 單探頭（收、發），雙探頭（一收一發） |
| 頻率范圍（MHz） | 寬帶 0.5–20 |
| 增益調節（dB） | 0～130 調節步距： 1，2，6，12 |
| 線性抑制 | 屏高的 0%～80%，步距： 1% |
| 垂直線性誤差 | 垂直線性誤差不大于 3% |
| 水平線性誤差 | 在掃描范圍內，不大于 0.2% |
| 探傷靈敏度余量 | ?60dB |
| 動態范圍 | ?32dB |
| 報警 | 進波報警 |
| 顯示屏 | 顯示屏： 高亮度彩色平板顯示器 |
|
A-Scan 顯示區域 | 全屏或局部 A-Scan 顯示凍結和解凍A-Scan 填充 |
| 探傷通道 | 500 個 |
|
數據存儲 | 100 幅 A-Scan 圖形 |
| 與 PC 機通訊接口標準 | USB |
| 測量單位 | Mm |
|
電源適配器 | 輸入 100V～240V/50Hz～60Hz 輸出 9V/1.5A |
| 電池 | 鋰電池 5000mAh |
| 工作溫度(℃) | -10～50 |
| 工作濕度(RH) | 20%～90% |
| 接口類型 | BNC |
| 外型尺寸(mm) | 238×160×48 |
| 重量（kg） | 1.0 |
5.%2 約定
為了方便使用本說明書，所有的操作步驟、注意事項等都是以相同的方式安排版面。這有助于迅速找到 每條獨立的信息。說明書目錄結構到目錄第四層，第四層往下的項目以黑體標題示出。
注意和說明標志
注意：注意標志指出操作中可能影響結果準確性的特性和特殊方面。 說明：注釋可以包括參閱其它章節或某個功能的特別介紹。
項目列表
項目列表表現為下列形式項目 A
項目 B
…
第 2 章 儀器的使用
1.%2 儀器概述
1.1.%3 儀器各部分名稱
圖 2.1 儀器外觀圖
1.2.%3 操作鍵盤說明鍵盤布局合理，常用鍵位于近左手大拇指的方位。左手保持自然放置狀態即可方便的調整儀器的所有設置。
為了便于操作者識別鍵盤功能特性，所有的鍵均分組并根據其操特點的不同標有不同的顏色。左側的鍵 區為常用鍵。右側鍵區為快捷菜單鍵，用于快速切換到相應功能的菜單，同時也體現本儀器的操作流程。左 下部區域為快捷功能鍵，用于快速實現常用功能。
鍵盤布局如下圖所示：
本儀器的操作流程：
圖 2.2 鍵盤布局圖
選擇探傷通道——>選擇探頭類型——>自動校準探頭和其他參數——>制作曲線（DAC、AVG、AWS）
——>存入通道——>現場探傷
（自動增益和波峰記憶是以上典型操作過程中的功能鍵，所以放在該區域） 具體按鍵的操作說明見附錄二“操作一覽表”。
1.3.%3 電源使用
可以使用插入式電源設備(AC.DC 適配器)或電池進行操作。
用電源適配器作為的工作電源時，插上電源適配器后儀器自動檢測并切換到適配器電源。 用電池作為的工作電源時，拔下電源適配器后儀器自動檢測并切換到電池電源。
在裝有電池的情況下，把連接到電源適配器電源供應系統時，可對電池充電。
1.3.1.%4 使用交流供電設備供電
通過專用的交流適配器，把連接到交流電源。
在儀器工作期間請勿強行拔掉電源，因為此時如果電池電量不足時，儀器將會自動斷電且不能正常關機。 正確的方法是關閉儀器后再拔掉電源。
1.3.2.%4 使用電池工作
使用電池供電時，請使用我們建議的電池產品。
電池盒在儀器的背部，用螺絲刀打開電池倉盒蓋，把電池放入電池倉內，將電池的插頭插入電池的插座， 蓋好電池倉盒蓋。
在波形顯示區上方有電池電量符號，圖示如下：
電池電量足電池電量低落電池電量不足 圖 2.3 電池電量顯示
如果出現電池電量不足的符號，就應該馬上停止探傷工作，更換電池或充電。
| 說明：如果需要進行現場測量，請隨身帶上備用電池。 |
給 Li 電池充電
可以使用外部電池充電器給鋰電池充電。建議使用儀器標準套中的電源適配器充電。使用該充電器前， 請仔細閱讀其使用說明。鋰(4Ah)電池連續充電時間約需 4～5 小時。充電完成后充電指示燈熄滅。
1.4.%3 探頭連接
使用檢測時，需要連接上合適的探頭。只要有適當的電纜線，并且工作頻率在適當范圍之內，任何我公 司生產的探頭都適用于。探頭連接器為 BNC。
探頭要連接到儀器外殼上方的插口。單探頭方式時，只有發射插口有效。連接雙晶鏈接可以隨意連接。
%1.2 儀器操作
2.1.%3 儀器基本操作步驟
%4) 準備好待測工件；
%4) 將探頭電纜線插頭插入主機的上方的插座中，旋緊插頭；
%4) 按 2.1.3 選擇好工作電源，按一下<開關鍵>，開機；
%4) 程序加載及開機自檢；
%4) 開機時正常情況下，自動進入上次關機時的狀態。儀器參數與上次關機時一致，但上次關機時的波 形不顯示。當開機自檢不正常時，可以先行關機再重啟動，如果仍然自檢不通過，可以強制復位至 儀器出廠時狀態。
%4) 檢查電池電壓，電池電量檢測圖標如圖 2.3 所示若顯示電量不足；
%4) 是否需要校準儀器及繪制 DAC 或 AVG 曲線，如果需要，專業技術人員進行相關操作（參閱第四章）；
%4) 調出相應探傷通道的參數設置；
%4) 測量；
%4) 對需要保存的數據進行存儲；
%4) 關機；
2.2.%3 啟動儀器
按下<開關鍵>，在開機音后屏幕啟動并進入程序加載過程，整個加載過程大約需要 4－5 秒時間。程序加載完成后系統進行自檢并進入操作界面。
2.3.%3 屏幕顯示說明
圖 2.4 屏幕說明
界面整體分為右菜單和下菜單，界面中 H 為閘門內波高數值，S 為閘門套住的傷波的聲程數值，當某一菜單被選中則界面會顯示為反色表示聚焦某一菜單。菜單左上角為儀器當前增益數值。界面中水平，垂直是 對于斜探頭，當完成斜探頭校準，儀器會根據探頭角度自動計算傷波相對探頭的垂直深度和水平距離。界面 中步進為每次改變儀器參數的最小范圍，步進的改變可以快速得到想要的參數。
1.%2.%3.%4 功能顯示項
十六個功能組的名稱分四頁顯示在屏幕下方。當前選擇的功能組被加亮顯示，同時當前功能組中當前選 擇的功能菜單也被加亮顯示，當前選中的功能菜單及參數出現在圖形顯示區的上方。
2.%2.%3.%4 其它指示標志說明
除了狀態欄的數據和符號顯示了部分設置、讀數和狀態標志外，功能菜單上方為突出顯示的測量值以及 當前操作的某些狀態指示。電池電量指示符號旁邊有凍結和通訊指示標志。
| 標志 | 名稱 | 含義 |
| S | 聲程值標志 | 入射點到反射點的聲程距離值。 |
| H | 波形值標志 | 入射點到反射點的波高值。 |
%1.%2.5 功能概述
的功能實現分為十六個菜單式功能組、若干個特殊功能。
16 個菜單式功能組分布在 4 個功能頁內，包括基本（BASE）、探頭（PROBE）、通道（CHAN）、存儲（MEM）、閘門（GATE）、自校準、DAC1、DAC2、AVG1、AVG2，發射，增益，B 掃描，設置 1，設置 2，AWS 各功能組的功能介紹見下表。
| 頁 | 功能組 | 功能 | 描述 |
| 1 | 基本 | 探測范圍、材料聲速、脈沖移位、材料厚度 | 顯示所需的基本參數 的調節項 |
| 1 | 探頭參數 | 探頭角度/K 值、探頭前沿、標度延時/雙晶 | 探頭相關設置 |
| 1 | 配置 | 蜂鳴器 、AWS、抑制、重復頻率 | 輔助相關 |
| 1 | 波形 | 填充、凍結、波形顏色、B 掃 | |
| 2 | 閘門 1 | A 閘門起始、A 閘門寬度、A 閘門高度 | 閘門設置相關項 |
| 2 | 閘門 2 | A 閘門起始、A 閘門寬度、A 閘門高度 | 閘門設置相關項 |
| 2 | 輔助功能 | 開啟熱點、連接軟件、語言、自動波高 | 輔助功能相關 |
| 2 | 自校準 | 直探頭校準、（按左鍵）斜探頭校準、 | 自動校準探頭 |
| 2 | DAC | 曲線開啟、設置點、校準閘門、曲線模式 | DAC 曲線標定 |
| 3 | DAC 配置 | DAC 判廢線/DAC 定量線、DAC 評定線、探傷標準 | DAC 曲線設置 |
| 3 | AVG | 曲線開啟、參考類型、校準閘門 | AVG 曲線標定 |
| 3 | AVG 配置 | 曲線當量、探頭頻率、晶片直徑、當量顯示 | AVG 曲線設置 |
| 3 | 通道 | 探傷通道、保存、刪除、初始化 | 探傷通道相關項 |
| 4 | 存儲 | 組號、調出、保存、刪除 | 數據存儲設置 |
| 4 | 斜探頭校準 | 校準開啟、探頭延時、探頭角度、校準閘門 | |
| 4 | 直探頭校準 | 校準開啟、工件厚度、校準閘門 | |
| 4 | 波形錄像 | 視頻組號、是否打開、是否錄像、是否刪除 | |
| 增益 | 補償增益、添加增益、掃描增益/自動增益、表面補償 | 增益相關設置 | |
其它特殊功能可通過特殊功能鍵來實現。各特殊功能鍵功能介紹見下表。
| 特殊功能 | 功能描述 |
| 凍結 | 波形凍結 |
| 峰值記憶 | 沿屏幕水平方向在每個像素線上保留曲線值 |
| 測值顯示 | 選擇測量值在屏幕上的顯示方式 |
| 確認 | 復用功能菜單切換、參數粗細調切換、功能確認等 |
%1.%2.6 基本操作方法
可以通過<左右鍵>完成功能組的選擇；通過上下鍵完成具體某一功能菜單的選擇；此時通過<旋鈕>即可 改變此功能菜單的參數。另外有些功能菜單是兩個功能復用的，當已選擇了某個功能時，再按<確認鍵>(旋鈕 按下)即可轉換為另一功能。
功能的粗調和細調
有些功能可在粗調和細調之間選擇。在切換到相應功能項時，再次按下<確認鍵>(旋鈕按下)就可以在這 兩種調節模式之間切換。細調以功能項前面的“*”作為標識。
下列為可選擇粗調和細調的功能項
功能功能組
探測范圍基本
材料聲速基本
脈沖移位基本
工件厚度基本
6.1.%3.%4 功能操作舉例
假設當前選擇的是基本功能組中探測范圍功能調節，如果想選擇閘門功能組的閘門邏輯，如何操作呢？ 先通過快捷鍵選擇閘門功能組；然后按上下鍵選擇閘門邏輯/閘門報警功能菜單。由于該功能項菜單是閘
門邏輯、閘門報警復用的，所以若此時顯示閘門邏輯，就完成了操作；若顯示閘門報警，則按下<確認鍵>(旋
鈕按下)改變為閘門邏輯。選擇完成后就可以用<旋鈕>來調節閘門邏輯了。
當需要選擇的功能選項與當前選中的功能不在同一個頁面內，可以使用<左右鍵>切換功能頁。
第 3 章 功能說明及操作方法
1.%2 基本組功能調節
在基本功能組可以調節設定顯示范圍相關的功能項，包括探測范圍、材料聲速、脈沖移位、工件厚度。 探傷過程中，屏幕顯示的范圍是與工件材料和探頭性質相關的。工件材料影響超聲波的傳播速率工件厚度。
1.1.%3 探測范圍
設定探傷中屏幕顯示的測量范圍，即觀察窗口的大小。 范圍：0mm～10000mm或0.1＂～400＂
若當前選擇的是探測范圍功能菜單，則通過按<確認鍵>可以在粗調、細調方式間切換。
粗調：2.5mm、5mm 、10mm、 20mm 、30mm 、40mm 、50mm、60mm、70mm、80mm、90mm、 100mm、
150mm、200mm、250mm、300mm、350mm、400mm、450mm、500mm、600mm、700mm、800mm、
900mm、1000mm、2000mm、3000mm、4000mm、5000mm、6000mm、7000mm、8000mm、9000mm、
10000mm
細調：范圍步長
≤100.0mm0.1mm
>100mm1.0mm
操作：
? 通過<聲程鍵>選擇探測范圍功能菜單，然后用<旋鈕>來調節探測范圍參數即聲程值。
? 利用<確認鍵>來切換粗、細調節方式。
1.2.%3 材料聲速
可以設定超聲波在被測工件中傳播的速率。范圍：1000m/s～9999m/s或
若當前選擇的是材料聲速功能菜單，則通過按<確認鍵>可以在粗調、細調方式間切換。 粗調：2260m/s銅中橫波聲速
2730m/s有機玻璃中縱波聲速
3080m/s鋁中橫波聲速
3230m/s鋼中橫波聲速
4700m/s銅中縱波聲速
5900m/s鋼中縱波聲速
6300m/s鋁中縱波聲速 細調：步長為 1m/s 或
操作：
? 通過<左右鍵>選擇基本功能組，再用上下鍵選擇材料聲速功能菜單，然后用來<旋鈕>調節聲速參數。
? 利用<確認鍵>來切換粗、細調節方式。
| 說明：請務必保證聲速值的正確性，儀器狀態行所顯示的部分測量結果都是基于此聲速值計算得到。 |
1.3.%3 脈沖移位
可以設定探傷過程中脈沖移位，亦即 D 延時。改變Ｄ延時可以調整波形起始位置。這樣可以調整顯示脈沖的起點，使其位于被測工件的表面或者是工件內部的某一起始面。如果脈沖必須從被測工件的表面開始， 那么 D 延時必須設置為 0。
范圍：-15µs ～3400µs 步長：1µs
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇基本功能組，再用上下鍵選擇脈沖移位功能菜單，然后用<旋鈕>來調節脈沖移位 參數即 D 延時值。
1.4.%3 工件厚度
設定探傷中被測工件的厚度。工件厚度：1mm～1000mm
若當前選擇的是厚度功能菜單，則通過按<確認鍵>可以在粗調、細調方式間切換。
粗調： 1mm, 5 mm 、10 mm、 20 mm、50mm、100mm、200mm、300mm、400mm、500mm、600mm、700mm、800mm、900mm、1000mm
細調：<100 mm0.1mm
>100 mm1.0mm
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇基本功能組，用上下鍵選擇工件厚度功能菜單，然后用<旋鈕>來調節工件厚度。 利用<確認鍵>來切換粗、細調節方式。
%1.2 探頭組功能調節
該功能組可以調節設定與超聲發射、接收相關的功能項，探頭方式/探測位置、折射角度/探頭 K 值、探頭零點/探頭前沿、標度方式/工件直徑。探頭固有性質決定著探頭零點。
說明：為了準確設定超聲波在工件中的聲速和探頭零點，請務必參閱第四章“儀器的校準”。
2.1.%3 探頭方式/探測位置
探頭方式：
若所用探頭是單探頭則設為直探頭、斜探頭；若是雙晶探頭則設為雙，若是穿透探頭則設為透射。 選項：直探頭、斜探頭、雙晶、透射
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇探頭功能組，用上下鍵選擇探頭方式功能菜單，然后用<旋鈕>來設定探頭方式。
? 當選擇探頭方式時。相應的缺省探頭設置會被加載。包括聲速、探測范圍、增益、角度，探頭零點、 前沿等參數都會被賦予典型值。
探測位置：
設定圓管探傷時探頭的探測位置。
選項：外圓：探頭位于圓管外壁上，此時修正后的 d 值表示缺陷距外壁表面的深度，L 值表示缺陷距探頭前沿沿外壁表面的距離；
內壁：探頭位于圓管內壁上，此時修正后的 d 值表示缺陷距內壁表面的深度，L 值表示缺陷距探頭前沿沿外壁表面的距離。
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇探頭功能組，用上下鍵選擇探測位置功能菜單，然后用<旋鈕>調節探測位置。
? 利用<確認鍵>來切換探測位置、工件直徑功能。
2.2.%3 折射角度/探頭 K 值
用斜探頭進行測量時，為了計算出反射體的位置，需要預先正確輸入探頭折射角度，由于有的探頭標稱 值不是角度值，而是 K 值，為輸入方便，增加了探頭 K 值輸入項。折射角度和探頭 K 值是同一參數，改變其中一個數值，另一個也隨之改變，二者的關系是：探頭 K 值=折射角度的正切值。
折射角度： 步長：0.1? 操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過功能鍵選擇探頭功能組，用上下鍵選擇折射角度功能菜單，然后用<旋鈕>來調節折射角度。
? 利用<確認鍵>來切換折射角度、探頭 K 值功能。探頭 K 值：
步長：0. 1
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇斜探頭功能組，用上下鍵選擇探頭 K 值功能菜單，然后用<旋鈕>來調節探頭 K 值。
? 利用<確認鍵>來切換折射角度、探頭 K 值功能。
2.3.%3 探頭前沿/探頭零點
探頭前沿：
設定探頭前沿即聲束入射點。范圍：0.00mm～50.0mm
步長：0.01mm
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇探頭功能組，用上下鍵選擇探頭前沿功能菜單，然后用<旋鈕>來調節探頭前沿。
? 利用<確認鍵>來切換探頭前沿、標度方式功能。
探頭零點：
可以設定探傷過程中的探頭零點，亦即 P 延時。必須用 P 延時來補償探頭由于聲束從換能器到被測工件這段聲程所產生的延時。
范圍：0µs ～99.99µs
步長：0.01µs 操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇探頭功能組，再用上下鍵選擇探頭零點功能菜單，然后用<旋鈕>來調節探頭零點 參數即 P 延時值。
| 說明：如果Ｐ延時未知，請務必參閱第四章儀器的校準。 |
2.4.%3 工件直徑/標度方式
工件直徑：
范圍：5.0mm～5000mm
步長：<100 mm0.1mm
>100 mm1.0mm
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇探頭功能組，用上下鍵選擇工件直徑功能菜單，然后用撥輪調節工件直徑。
? 利用<確認鍵>來切換探測位置、工件直徑功能。
標度方式：
標度方式是指屏幕曲線顯示區水平坐標定義方式，包括“聲程”、“投影”、“深度”、“曲面”四種 方式可供選擇。當折射角度輸入值不為零時此功能有效，當折射角度為零時坐標定義為聲程方式。
選項：聲程、深度操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇探頭功能組，用上下鍵選擇標度方式功能菜單，然后用<旋鈕>來選擇標度方式。
? 利用<確認鍵>來切換探頭前沿、標度方式功能。
%1.%2 通道組功能調節
通道功能組用于與通道有關的操作，包括探傷通道、通道復制、設置保存/設置修改及設置刪除。
3.1.%3 探傷通道
由于在現場探傷時需要對多種工件進行探傷，或者在探傷過程中要更換探頭，在這些情況下就需要重新 對儀器進行校準，因此為了儀器調校方便，儀器提供了 500 個探傷通道，用戶可事先將多種現場需要用到的設置調節好并分別存儲到不同的通道中，在現場時就可以直接切換到相應的通道中調用這些設置了。
范圍：～No.500 操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇通道功能組，用上下鍵選擇探傷通道功能菜單，然后用<旋鈕>來調節探傷通道序 號。
? 自動翻動探傷通道的過程中，探傷通道內的數據將會自動加載，存儲過設置的通道會加載存儲的儀
器設置，空通道會加載初始化設置。
3.2.%3 通道復制
實現探傷通道設置參數的復制功能，復制成功后當前通道的探傷參數都會被復制到目標通道中。 操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過功能鍵選擇通道功能組，用上下鍵選擇通道復制功能菜單，然后用<旋鈕>來進行目標通道 號的調節。
? 設置好目標通道號后，此時若按<凍結>鍵則執行通道復制。
| 注意：當目標通道已經有數據或者當前通道沒有存儲設置參數，則執行通道復制功能，將提示操作錯誤。 |
3.3.%3 設置保存/設置修改
設置保存：功能菜單實現探傷通道設置保存。操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇通道功能組，再用功能菜單對應的菜單鍵選擇設置保存功能菜單，然后用<旋鈕> 來進行存儲操作。
| 注意：1. 若探傷通道號前顯示*時，表示該通道已存有設置值。 %1. 如果該通道中已經存有設置參數，那么設置保存操作將更新原來的設置值。 %1. 若當前通道被鎖定，則設置保存功能無效。 %1. 如果因程序錯誤導致通道數據不能刪除，功能“初始化”選項進行刪除，但此功能將會刪除所 有通道的存儲設置，因此建議僅在必要時使用。 |
設置修改：實現已經存儲過數據的探傷通道的設置參數的改寫功能，執行成功后，當前機器設置會取代 當前通道內所存儲的探傷參數。
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過功能鍵<通道參數>選擇通道功能組，用上下鍵選擇設置修改功能菜單，然后用<旋鈕>來進行調 出操作。
? 若當前通道無設置參數，用<旋鈕>調節時該功能菜單總是顯示關；若當前通道有設置參數，用<旋鈕>調節時就會顯示“是/否”的提示，此時若按<確認鍵>則提取執行，若按其它任意鍵則調出取消。
3.4.%3 設置刪除
該功能菜單實現探傷通道設置刪除。操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇通道功能組，再用功能菜單對應的菜單鍵選擇設置刪除功能菜單，然后用<旋鈕> 來進行刪除操作。
? 若當前通道無設置參數，用<旋鈕>調節時該功能菜單總是顯示關；若當前通道有設置參數且該通道
未被鎖定，用<旋鈕>調節時就會顯示“是/否”的提示，此時若按<確認鍵>則刪除執行，若按其它任 意鍵則刪除取消。
%1.%2 存儲組功能調節
用來調節設定數據及探傷參數的存儲模式、調出、刪除、保存等相關功能。包括數據組號、數據調出、 數據保存、數據刪除功能菜單。
| 注意：當波形存儲時，所存儲的數據包括此時的 A 掃波形數據和儀器當前的探傷參數及 DAC 曲線。這 意味著當提取一組已存儲好的數據時，不僅當前顯示波形會變化為所存波形，而且當前儀器探傷 參數也會隨之變為所存儲的參數。 |
4.1.%3 組號
設定存儲組號。
范圍：波形存儲，組號 1~500
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇存儲功能組，用上下鍵選擇組號功能菜單，然后用<旋鈕>來設定組號。
? 利用<確認鍵>來切換存儲模式。
| 說明：波形存儲模式下，若組號前顯示*時，表示該組已有數據；若組號前顯示￥時表示該組已有數據 且被鎖定； |
4.2.%3 調出
實現波形存儲模式下的數據調出功能，。提取當前組號所對應的數據。調出成功后當前波形和探傷參數 都會被所存儲的波形和探傷參數代替，且波形處于凍結狀態。
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇存儲功能組，用上下鍵選擇調出功能菜單，然后用<旋鈕>或<旋鈕>來進行調出操 作。
? 若當前組號無數據，用<旋鈕>調節時該功能菜單總是顯示關；若當前組有數據，用<旋鈕>調節時就 會顯示“是/否”的提示，此時若按<確認鍵>則提取執行，若按其它任意鍵則調出取消。
4.3.%3 存儲
該功能菜單實現數據存儲。操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇存儲功能組，用上下鍵選擇保存功能菜單，然后用<旋鈕>或<旋鈕>來進行存儲操 作。
? 也可以利用存儲快捷鍵直接實現存儲操作。數據將被自動存儲在從組往后的個空位中。
| 注意：1. 存儲數據前，必須保證當前組號所對應的數據組中沒有數據，否則無效。 %1. 正確設置當前存儲模式。 %1. 若需上傳帶 DAC 曲線的波形畫面到 PC 機，應先調整好設置及 DAC 參數，然后在該組號下存儲數據。 |
4.4.%3 刪除
數據刪除。刪除當前組號所對應的數據。刪除成功后該組號前“*”消失。 操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇存儲功能組，用上下鍵選擇刪除功能菜單，然后用<旋鈕>來進行刪除操作。
%1.%2 閘門組功能調節
關于閘門設置相關項的調節。包括閘門邏輯、閘門報警、閘門起始、閘門寬度、閘門高度。 閘門在探傷中的作用：
? 監測被測工件在設定邏輯和范圍內是否有缺陷，若有，則報警。
? 測量缺陷回波的位置和大小。
具有雙閘門功能：閘門 A 和閘門 B。通常只需閘門 A 即可監測工件缺陷；雙閘門主要是用于多個回波的測量和校準，比如測厚時測量工件表面回波和一次回波的距離。
5.1.%3 閘門邏輯/閘門報警
該功能菜單閘門報警復用，當選中該功能菜單時，可以通過按<確認鍵>來切換功能。 操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇閘門邏輯功能菜單，然后用<旋鈕>來調節閘門邏輯。
? 利用<確認鍵>來切換閘門邏輯、閘門報警功能。 閘門報警：
閘門報警設定。
根據閘門邏輯的設定，可用于進波報警。即當回波幅值高于閘門閾值時蜂鳴器報警。 操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇閘門報警功能菜單，然后用<旋鈕>來開關報警功能。
? 利用<確認鍵>來切換閘門報警功能。
5.2.%3 A 閘門起始/B 閘門起始
該功能菜單 A 閘門起始、B 閘門起始復用，當選中該功能菜單時，可以通過按<確認鍵>來切換功能。
A 閘門起始： 操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇 A 閘門起始功能菜單，然后用<旋鈕>來調節閘門 A 起始位置。
? 利用<確認鍵>來切換 A、B 閘門起始功能。
B 閘門起始： 操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇 B 閘門起始功能菜單，然后用<旋鈕>來調節閘門 B 起始位置。
? 利用<確認鍵>來切換 A、B 閘門起始功能。
| 說明：閘門 B 與閘門 A 相互獨立。閘門起始、閘門寬度、閘門高度可以分別調節互不干擾。 |
5.3.%3 A 閘門寬度/B 閘門寬度
該功能菜單 A 閘門寬度、B 閘門寬度復用，當選中該功能菜單時，可以通過按<確認鍵>來切換功能。
A 閘門寬度： 操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇 A 閘門寬度功能菜單，然后用<旋鈕>來調節閘門 A 的寬度。
? 利用<確認鍵>來切換 A、B 閘門寬度功能。
B 閘門寬度： 操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇 B 閘門寬度功能菜單，然后用<旋鈕>來調節閘門 B 的寬度。
? 利用<確認鍵>來切換 A、B 閘門寬度功能。
5.4.%3 A 閘門高度/B 閘門高度
該功能菜單 A 閘門閾值、B 閘門閾值復用，當選中該功能菜單時，可以通過按<確認鍵>來切換功能。
A 閘門高度：
設定閘門 A 的高度值。參數用百分數表示，即相對滿幅值的百分比。范圍：2%～90%
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇 A 閘門高度功能菜單，然后用<旋鈕>來調節閘門 A 高度值。
? 利用<確認鍵>來切換 A、B 高度功能。
B 閘門高度：
設定閘門 B 的高度值。參數用百分數表示，即相對滿幅值的百分比。范圍：2%～90%
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇 B 閘門高度功能菜單，然后用<旋鈕>來調節閘門 B 高度值。
? 利用<確認鍵>來切換 A、B 高度功能。
%1.%2 探頭自校準功能調節
6.1.%3 直探頭校準
為了方便操作者校準直探頭零點及材料聲速，儀器提供了探頭校準功能，利用此功能可方便的完成直探 頭的校準工作。直探頭校準功能位于自校準功能菜單中。
以標配的直探頭為例，它是一個頻率 2.5MHz，直徑 20mm 的單晶探頭。校準需要兩個和測量物體同材質且厚度已知的試塊。
假設以厚度為 100mm 的試塊對該探頭進行校準，其步驟如下： 先初步設定一個大概的聲速值如 5920m/s
步：選擇（自動校準按鍵）選擇直探頭校準-開啟自動校準功能（顯示：是否有效 調節到（是） 第二步：設置工件厚度（高于已知厚度）
第三步：探頭連接好涂上耦合劑、放在被測工件上、找到回波
第四步：調到校準閘門（用閘門套住回波-按一下自動增益 回波高度會到屏幕的 80%）在（校準閘門欄目按一下確認健） 這樣直探頭校準完成。
| 注意：在單個已知厚度的試塊上也可以使用自動校準功能。操作者可以利用多次回波而無須將探頭分別 放在厚試塊和薄試塊上，分別移動閘門 A 到各個回波并輸入正確的厚度值即可。 |
6.2.%3 斜探頭校準
為了方便操作者校準斜探頭角度、前沿、零點及材料聲速，儀器提供了斜探頭校準功能，利用此功能可 方便的完成斜探頭的校準工作。斜探頭校準功能位于自校準功能菜單中。斜探頭的自動校準，本儀器提供了 兩種方法，種是基于 CSK-1A 試塊的校準。
1.基于 CSK-1A 試塊的校準（一鍵自動校準法（回車鍵））
以標配的斜探頭為例，它是一個頻率 2.5MHz，晶片為 13mm×13mm，角度為 K2 的單晶探頭。可以利用 CSK-IA 試塊對其進行校準。校準前無需輸入任何參數。
步：選擇（自動校準按鍵）選擇斜探頭校準-開啟自動校準功能（顯示：是否有效 調節到（是） 第二步：連接探頭前端對準半圓方向、，探傷儀將自動調節閘門為雙閘門，自動放置閘門位置，自動設
置探測范圍。將探頭放在圓心上，來回移動，找到 R100 的波，同時保證 R50 的波高于 15%，按兩下確認鍵，
200.0
圖 3.1 CSK-IA 試塊
3）再按下回車鍵，顯示探頭前沿的估計值，此值需要讀出探頭到圓心刻度（或用刻度尺測量后），使用 撥輪輸入。
第三步：探頭調轉對準透明玻璃圓圈方向、在標示 K2 的地方找到找到波、用閘門套住波形、按確認健校準探頭角度完成
整個校準過程無需手動調節探測范圍和閘門，只需找到波，按回車鍵確認即可。
圖 3.2 角度測量
6.3.%3 A 閘門起始/A 閘門寬度
該功能菜單 A 閘門起始和 A 閘門寬度復用，在這里重新設置 A 閘門起始和 A 閘門寬度是為了方便做探頭校準時調節閘門參數，當選中該功能菜單時，其調節方法請參考 3.5.2 及 3.5.3 所述內容。
6.4.%3 校準類型
為 CSK-IA。
%1.%2 DAC1 組功能調節
DAC 功能組用來標定 DAC 曲線。包括 DAC 曲線開關/標定修正開關、DAC 標定點/DAC 修正點、A 閘門起始/A 閘門寬度、顯示標定/曲線模式。
DAC 曲線的作法請參見 4.4：
7.1.%3 DAC 曲線/標定修正
該功能菜單 DAC 曲線顯示開關和標定修正開關復用，
DAC 曲線：
實現 DAC 顯示開關功能，若打開 DAC，則顯示 DAC 曲線。DAC 曲線開關無效。選項：開、關
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過 DAC 快捷鍵選擇 DAC1 功能組，用上下鍵選擇 DAC 曲線功能菜單，然后用<旋鈕>來設置 DAC
曲線開關。
? 利用<確認鍵>來切換 DAC 曲線、標定修正功能。
| 注意：當完成 3 個以上標定點后自動繪制 DAC 曲線。最多可設置 10 個標定點。 |
標定修正：
對 3.7.2 中選擇的修正點進行重新標定。如果在制作 DAC 曲線時發現前面標定過的某個標定點由于標定誤差較大或標定錯誤導致曲線繪制不理想，可以選擇相應的標定點，并把閘門調節至相應的位置，通過標定 修正功能重新標定該點數據。
選項：開、關操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過 DAC 快捷鍵選擇 DAC1 功能組，用上下鍵選擇標定修正功能菜單，然后用<旋鈕>來修正標定點。
? 利用<確認鍵>來切換 DAC 曲線、標定修正功能。
7.2.%3 DAC 標定點/修正點
該功能菜單 DAC 標定點和修正點選擇功能復用，當選中該功能菜單時，可以通過按<確認鍵>來切換功能。DAC 標定點功能菜單用來記錄做 DAC 曲線所需要的回波信息，修正點選擇功能用于選擇需要進行修正的標定點。
DAC 標定點： 范圍：3～10 操作：
? 確認閘門工作在單閘門狀態。
? 利用切換功能頁。
? 通過 DAC 快捷鍵選擇 DAC 功能組，用上下鍵選擇 DAC 標定點功能菜單。
? 并使參考回波落在閘門內，然后調節到（校準閘門）按確認鍵-來添加標定點，重復相同的操作可以 繼續添加標定點。
? 利用<確認鍵>來切換 DAC 標定點、修正點選擇功能。范圍：1～30，但不大于 DAC 標定點的值
注意：標定點錯誤時-重新開啟一次曲線、就可以重新標定。
7.3.%3 A 閘門起始/A 閘門寬度
該功能菜單 A 閘門起始和 A 閘門寬度復用，在這里重新設置 A 閘門起始和 A 閘門寬度是為了方便做 DAC
標定點時調節閘門參數，當選中該功能菜單時，其調節方法請參考 3.3.2 及 3.3.3 所述內容。操作：
? 通過 DAC 快捷鍵選擇 DAC 功能組，用上下鍵選擇顯示標定功能菜單，用<旋鈕>來開關標定點的顯示功能。
? 利用<確認鍵>來切換顯示標定、曲線模式功能。 曲線模式：
曲線模式用于選擇 DAC 標定點之間的連線方式。選項：直線、曲線
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過 DAC 快捷鍵 DAC 功能組，用上下鍵選擇曲線模式功能菜單，用<旋鈕>來選擇 DAC 曲線的連接模式。
? 利用<確認鍵>來切換顯示標定、曲線模式功能。
%1.%2 DAC2 組功能調節
DAC2 功能組用來調節設定繪制 DAC 曲線時所需的相關參數。包括 DAC 判廢線/當量標準、DAC 定量線、
DAC 評定線，DAC 母線。
為了適應不同行業中 DAC 曲線的繪制標準，儀器提供了 3 條可調偏置的 DAC 曲線，分別是 DAC 判廢線、DAC 定量線、DAC 評定線。另外為使 DAC 曲線能適應不同的環境條件，還提供了增益補償功能。三條偏置曲線的偏置值均為相對于母線的，母線是利用標定點的數據信息及超聲波在傳播過程中的衰減規律繪制 而成，根據三條偏置曲線的作用不同它們按照判廢、定量、評定的順序由上到下分布在屏幕上。
8.1.%3 DAC 判廢線/當量標準
該功能菜單 DAC 判廢線和當量標準選擇功能復用，當選中該功能菜單時，可以通過按<確認鍵>來切換功能。
DAC 判廢線：
設置 DAC 判廢線的偏置值。
參數范圍：-50dB～50dB，步長為 1 dB
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇 DAC2 功能組，用上下鍵選擇 DAC 判廢線功能菜單，然后用<旋鈕>設置 DAC 判廢曲線的偏置值。
? 利用<確認鍵>來切換 DAC 判廢線、當量標準選擇功能。當量標準：
當量標準是指閘門內的缺陷回波的當量值是以哪條曲線為標準，常用“母線”或“定量”。其中母線是 指制作 DAC 的原始標定曲線，另外三條可選的標準為 DAC 偏置曲線。該標準僅在制作成功 DAC 曲線后方才生效。
選項：母線、判廢、定量、評定操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇 DAC2 功能組，用上下鍵選擇當量標準功能菜單，用<旋鈕>來選擇計算當量的參考曲線。
? 利用<確認鍵>來切換 DAC 判廢線、當量標準選擇功能。
8.2.%3 DAC 定量線
設置 DAC 定量線的偏置值。
參數范圍：-50dB～50dB，步長為 1 dB
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇 DAC2 功能組，用上下鍵選擇 DAC 定量線功能菜單，然后用<旋鈕>來設置 DAC定量曲線的偏置值。8.3.%3 DAC 評定線
該功能菜單用于調整 DAC 偏置曲線中的評定線。參數范圍：-50dB～50dB，步長為 0.1 dB
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇 DAC2 功能組，用上下鍵選擇 DAC 評定線功能菜單，然后用<旋鈕>來設置 DAC
評定曲線的偏置值。
8.4.%3 探傷標準
探傷儀內置了 14 套探傷標準， "Custom ,GB/T 11345-89A ,GB/T 11345-89B,GB/T 11345-89C, JB/T 4730-2005, JG/T 3034.1/2,SY/T 4109-2005, GB/T 3559-94,ASME-3,DL-T 820-2002 A,DL-T 820-2002B,DL-T 820-2002 C,TB 10212-98D（對接焊縫）, TB 10212-98J（角接焊縫） "。其中 Custom 為客戶可定制的典型曲線，其他為固定標準。在本選項下按回車鍵可進入標準設置界面，可設置工件厚度和探傷試塊，部分 標準會依據這兩個參數自動調節曲線偏置。操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇 DAC2 功能組，用上下鍵選擇探傷標準功能菜單，然后用撥輪來設置回波曲線標準偏置值。
%1.%2 AVG1 組功能調節
具有 AVG 曲線測量功能，其中 AVG1 功能組用于設置 AVG 曲線標定參數。包括 AVG 曲線開關、探頭名稱、探頭頻率/晶片尺寸、參考類型/參考尺寸。
9.1.%3 AVG 模式
該功能菜單 AVG 模式和楔子聲速復用，當選中該功能菜單時，可以通過按<確認鍵>來切換功能。
AVG 模式：
實現 AVG 顯示開關功能，若打開 AVG，則顯示 AVG 曲線。選項：開、關操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過 AVG 快捷鍵選擇 AVG 功能組，用上下鍵選擇 AVG 模式功能菜單，然后用<旋鈕>來設置 AVG曲線開關。
? 通過 AVG 快捷鍵選擇 AVG1 功能組，用上下鍵選擇楔子聲速功能菜單，利用<確認鍵>來切換 AVG模式。
9.2.%3 探頭頻率/晶片尺寸
（AVG 曲線配置）該功能菜單探頭頻率和晶片尺寸復用，當選中該功能菜單時， 探頭頻率：
輸入所用探頭的額定頻率。
范圍：0.5MHz～10MHz 操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過 AVG 快捷鍵選擇 AVG 功能組，用上下鍵選擇探頭頻率功能菜單，然后用<旋鈕>來調節探頭頻率。
? 利用<確認鍵>來切換探頭頻率、晶片尺寸功能。 晶片尺寸：
探頭標稱的有效直徑。 范圍：3.00mm～35.00mm操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過 AVG 快捷鍵選擇 AVG1 功能組，用上下鍵選擇晶片尺寸功能菜單，然后用<旋鈕>來調節晶片尺寸。
? 利用<確認鍵>來切換探頭頻率、晶片尺寸功能。
9.3.%3 參考類型/參考尺寸
該功能菜單參考類型和參考尺寸復用，當選中該功能菜單時，可以通過按<確認鍵>來切換功能。 參考類型：
在標定 AVG 曲線時，需要使用帶有已知規則反射體的標準試塊。本儀器標定的 AVG 曲線支持三種類型的規則反射體。
選項：平底孔：在底面上的其直徑與參考缺陷尺寸相當的圓柱孔。 大平底：反射體尺寸可近似為無窮大的平面。
操作：
? 通過 AVG 快捷鍵選擇 AVG1 功能組，用上下鍵選擇參考類型功能菜單，然后用<旋鈕>來調節參考反射體的類型。
? 利用<確認鍵>來切換參考類型、參考尺寸功能。 參考尺寸：
標準試塊上規則反射體的標稱尺寸。范圍：0.50mm～10.0mm
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過功能鍵選擇 AVG 功能組，用上下鍵選擇參考尺寸功能菜單，然后用<旋鈕>來調節反射體的標稱值。
? 利用<確認鍵>來切換參考類型、參考尺寸功能。
A 閘門起始/AVG 曲線
A 閘門起始：
在這里重新設置 A 閘門起始是為了方便做 AVG 標定時調節閘門位置，當選中該功能菜單時，其調節方法請參考 3.3.2 所述內容。
AVG 曲線：
AVG 曲線是基于標準試塊上的已知反射體進行標定的，當標準所規定的參考反射體與試塊上的反射體尺寸不相符時，可將 AVG 曲線調節為其當量曲線。
范圍：0.30mm～20.0mm 操作：
通過<左右鍵>選擇 AVG2 功能組，用上下鍵選擇 AVG 曲線功能菜單，然后用<旋鈕>來調節 AVG 曲線當量值。
? 利用<確認鍵>來切換 A 閘門起始、AVG 曲線功能。
9.4.%3 標定參考
該功能用于標定 AVG 曲線。
選項：0（未標定）、1（已標定） 操作：
? 確認閘門工作在單閘門狀態。
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇 AVG 配置功能組，用上下鍵選擇標定參考功能菜單。
? 將 A 閘門移至所需參考回波處，并使參考回波落在閘門內。
? 將 A 閘門內回波增益至屏幕的 80%。
? 用右鍵標定 AVG 曲線參考值。
? 如需修改此參考值，可用左鍵刪除后重新進行標定。
9.5.%3 發射重復頻率
為了產生超聲波，每秒內由脈沖發生器激勵探頭晶片的脈沖次數稱為（超聲發射）重復頻率。該參數用 于設定儀器系統的超聲發射重復頻率(PRF)。
調整范圍：（30～1000）Hz，一般設置（100～300）Hz 為宜。當探傷掃查工件的速度較快時，需要選用較高的重復頻率，以防止缺陷漏檢；掃查速度較慢時，設置較低的發射重復頻率可以降低儀器功耗。
如果檢測范圍較大，例如大于 2000mm 時，建議發射重復頻率不要大于 100Hz。可以對探傷儀的發生脈沖頻率進行調解
%1.%2 增益組功能調節
增益功能組用于調整系統靈敏度，使增益調節變得靈活方便。包括自動增益。
10.1.%3 自動增益
自動增益功能是一個快速調節儀器增益（dB）的工具，它可以自動調整儀器的增益值，使得 A 閘門內捕捉到的回波峰值達到設定好的屏幕高度（如 80%）。設定范圍（10%到 99%）
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<左右鍵>選擇增益功能組，用上下鍵選擇自動增益功能菜單，撥動<旋鈕>來調節設定高度。
10.2.%3 動態回放/錄象
錄像：該功能在上位機上實現實時波形錄像和報告等
10.3.%3 錄象組號/刪除
該功能菜單用于調節當前操作的探傷錄像的組號。
注意：該功能在上位機上實現實時波形錄像和報告等
%1.%2 設置 1 組功能調節
儀器的探測方式/回波抑制、坐標柵格/ ELD 亮度的設定都在此組中實現。
11.1.%3 探測方式/回波抑制
探測方式：
選擇測量方式，當測量方式為峰值方式時，測量值為閘門內波幅的回波數據。在邊沿測量方式下， 測量數據為閘門內回波的前沿（回波波形曲線的上升線）與閘門相交處數據。因此，選擇邊沿方式時，對閘 門內回波波幅的測量值受到閘門閾值（高度）的影響。
選項：峰值、邊沿操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<系統設置>快捷鍵選擇設置 1 功能組，用上下鍵選擇探測方式功能菜單，然后用<旋鈕>來設置測量方式。
? 利用<確認鍵>來切換探測方式、串口設置功能。 回波抑制：
此功能菜單用來抑制回波顯示幅度，比如要去除被測工件的結構噪聲。它是通過設定抑制百分比（即滿 幅值的百分比）來抑制幅度低于設定值的回波的顯示。
抑制百分比（即滿幅值的百分比）表示最小顯示的回波高度。低于此高度的回波幅值將被忽略而記為零 幅值。
范圍：0%~80% 步距：1%
操作：
? 通過<系統設置>快捷鍵選擇設置 1 功能組，用上下鍵選擇回波抑制功能菜單，然后用<旋鈕>來設定抑制百分比。
| 注意：請謹慎使用此功能，以免在抑制噪聲的同時使傷波也受到抑制。另外，在一些探傷規范中，此 功能是禁用的。 |
%1.%2 設置功能調節
12.1.%3 顏色選擇
顏色選擇：
儀器屏幕有四種風格各異的顏色配置方案，操作者可根據自己的習慣以及操作環境選擇合適的界面。 選項：0～4
操作：
? 利用切換功能頁。
? 通過<系統設置>快捷鍵選擇設置 2 功能組，用上下鍵選擇顏色選擇功能菜單。然后用<旋鈕>選擇合適的顏色方案。
利用<確認鍵>來切換軟件版本、顏色選擇功能。
12.2.%3 WIFI 連接 PC
進入該模式之后，可以聯接 PC 機，上傳探傷檢測數據。
%1.%2 特殊功能調節
為了方便用戶使用，儀器面板上除了菜單式的功能組選擇還有十三個使用頻率較高的特殊功能鍵，包括 增益步長調節、增益+/-、波形凍結、峰值記憶、動態記錄、測值顯示、探測范圍、脈沖移位、閘門 A、閘門B。
13.1.%3 增益步長
調節增益步長。
選項： 1.0dB、2.0dB、6.0dB、、、、100.0dB
操作：
? 按<增益步長鍵>，增益步長會在選項中循環變化。
13.2.%3 增益值
增益步長調節到合適選項時，然后通過增益+/增益-鍵就可以設定增益大小。 參數范圍：0dB~130dB
操作：
? 按<增益+>或<增益->鍵，增益就會以當前所設增益步長變化。
13.3.%3 凍結
實現波形凍結功能。
操作：
? 按<凍結鍵>，即可使波形在凍結和非凍結間切換。
? 在凍結狀態下，屏幕出現提示圖標*。
| 注意：在凍結狀態下，部分功能調節失效。 |
13.4.%3 峰值記憶
峰值記憶功能的作用是當探頭在試塊上移動時，在橫坐標的每個像素線上對回波的峰值點進行捕捉記憶 并連成一條包絡線，根據包絡線的形狀用戶可方便的找到缺陷的波，并可為判斷缺陷的性質提供依據。
操作
? 按<峰值記憶>，切換峰值記憶開關。
? 在峰值記憶功能開啟狀態時，屏幕出現提示圖 
。
13.5.%3 探傷錄像
按下該鍵可以自動開始或停止探傷過程錄像。
13.6.%3 測值顯示
在圖形顯示區的右上角顯示了一個測量數據，此功能是選擇顯示數據的內容。當此處顯示聲程、投影活或深度中的某一個數據時其他兩種數據將在狀態欄中顯示，當選擇顯示當量 dB 時，屏幕上面將顯示由 DAC 曲線測得的當量值及聲程數據，如果 DAC 曲線關閉或者閘門內波形超出屏幕高度范圍時當量 dB 將顯示為*。
選項：聲程、投影、深度、當量 dB、當量孔操作
? 按<測值顯示>，順序切換顯示數據的類型。
13.7.%3 快捷功能鍵
探測范圍、閘門 A、閘門 B 為使用頻率較高的功能，因此設置了快捷鍵。操作
? 按<閘門 A >，可快速將功能菜單切換到 A 閘門起始選項，繼續按此鍵則功能菜單在 A 閘門起始、A 閘門寬度、A 閘門高度之間順序切換。
13.8.%3 恢復出廠設置
如果需要，可以在探傷通道菜單欄中初始化儀器第 4 章 儀器的校準與測量
1.%2 DAC 曲線應用方法
DAC 曲線是用于區分大小相同，但距離不同的反射體幅度的變化。正常情況下，試件內同樣大小，距離不同的反射體，由于材料的衰減，波束的擴散而造成波幅的變化。DAC 曲線是用圖示方式補償材料衰減，近場影響，波束擴散和表面光潔度。正常情況下，在繪制好 DAC 曲線后，不管試件中反射體的位置如何，同樣大小的反射體產生的回波峰值均在同一條曲線上。同樣道理，比試件中反射體較小的反射體產生的回波會落 在該曲線下面，而較大一些的會落在該曲線上面。
1.選擇探傷通道 通過快捷鍵選擇通道功能組，調節探傷通道號，選擇一個通道作為當前探傷條件下儀器設置通道，例如：。（注：每個的通道下可保存一組 DAC 曲線標定點，這些標定點不需要進行保存操作， 當標定點被標定后將直接保存在當前通道下，如果希望在該通道下同時保存儀器當前參數設置，則需要通過“通道”－>“設置保存”操作來完成。）
2.打開 DAC 曲線功能 通過快捷鍵選擇 DAC1 功能組，再用上下鍵選擇 DAC 曲線功能菜單（如當前子菜單中沒有 DAC 曲線功能，請利用<確認鍵>來切換 DAC 曲線、標定修正功能），然后按<旋鈕>來設置 DAC 曲線開關。
3.制作 DAC 曲線 通過快捷鍵擇 DAC1 功能組，按本說明書 3.7.2 所述方法添加標定點，當添加兩個標定點后，將會在儀器屏幕上自動繪制 DAC 曲線。（注意：請沿探測范圍由小到大標定數據，即后標定的點要在前一個標定點后面，且其回波高度不應高于前一個標定點，如果后點回波高度高于前點 DAC 曲線會被繪制為直線。）
4.調節三條偏置曲線的偏置值 通過快捷鍵選擇 DAC2 功能組，按檢測標準規定調整三條偏置曲線的偏置量， 即調節 DAC 評定線、DAC 定量線、DAC 判廢線的偏置值到需要的設置。
5.繪制好的 DAC 曲線如圖：
圖 4.4 DAC 曲線
如上圖所示，三條 DAC 曲線將屏幕劃分為 I、II、III 三個區域，現場探傷時這三條 DAC 曲線將繪制在屏幕上，操作者可根據反射體回波高度所在的區域來直接確定缺陷性質。
7.當量計算 如果希望測量閘門內缺陷回波的當量值，可通過<測值顯示鍵>選擇測值顯示功能，將屏幕右上角的顯示值切換為當量值，然后通過快捷鍵選擇 DAC1 功能組，用上下鍵選擇當量標準功能，調節當量標準將相應的 DAC 偏置曲線作為測量的標準。
2.%2 測量內容
使用本探傷儀進行測量需要進行如下工作：
設置好閘門的起點、閘門寬度、閘門閾值以及閘門報警方式。 測量內容為：
S聲程
H(%)閘門范圍內回波高度的相對值（相對于屏高）
h閘門范圍內回波高度的值（單位是像素）
d缺陷深度
D(%)缺陷深度相對值（相對于工件厚度）
P缺陷距探頭前沿的水平距離 上面的參數含義具體參見下面的圖
其中：
s：表示聲程；
d：表示缺陷的深度；
t：表示工件的厚度；
x：表示超聲源到探頭前沿的距離；
p：表示缺陷距離探頭前沿的水平距離；
D:是缺陷深度相對值，它是按照下面的的發法得到的
D ? d t
當使用直探頭時，由于 d 值與 S 值重合，因此 x、p、d、D 值失去意義，x 值不需要設定，p、d、D 值也將不會顯示。
在進行測量前要注意：
包括聲速、探頭零點在內的儀器標定工作應完成，測量方式可選擇前沿方式與峰值方式。測量的波幅為閘門內波幅的回波波幅。在前沿測量方式下，測量的聲程為閘門內回波的前沿（回波波形曲線的上升線） 處聲程值。因此，選擇前沿方式時，對閘門內回波波幅的測量值受到閘門閾值（高度）的影響。
聲程測量只有閘門開啟時才能測量，在測量前首先選擇測量方式：邊沿方式、峰值方式。然后選擇單雙 閘門方式。單閘門方式下，測量值為閘門內回波前言或峰值處的聲程值。雙閘門方式下：測量值為起始于 A 閘門內回波終止于 B 閘門內回波之間的聲程值。
第 5 章 保養與維修
1.%2 環境要求
嚴格避免碰撞、重塵、潮濕、強磁場、油污等。 嚴禁用具有溶解性的物質擦拭外殼。
2.%2 電池充電
顯示屏幕上的電池狀態標志實時反映了電池電壓情況。當電池電壓過低時，即屏幕上的電池狀態標志為 欠壓標志
時，應盡快給儀器充電。
充電方法如下（開機或關機狀態均可充電）：
%3. 將電源適配器的電源插頭插入充電插座中；
%3. 將電源適配器接到 220V/50Hz 市電上，充電指示燈亮；
%3. 當充電指示燈熄滅時，表明電池已經被充滿。正常情況大約充電 4.5 h 即可充滿。
%3. 拔下充電插頭，充電過程結束。
| 提示：1. 電源適配器的輸入電壓為 220V 交流，輸出為 9V 直流，充電流約 1000mA，最長充電時間 約 6h。 %1. 本儀器使用了鋰離子蓄電池，因此當出現欠壓標志時,應及時充電，過放電對電池會有所損傷。 %1. 儀器如果長期不用，請每隔一個月對儀器進行一次充電，以免過放電造成電池無法正常使用。 %1. 如果電池過放電導致無法正常充電時（電池沒電且充電指示燈不亮），可以將電源適配器拔下后過兩分鐘后再插上繼續充電，多次重復此操作可使電池充電恢復正常。 %1. 本儀器可以一邊充電一邊工作。 |
3.%2 故障排除
如果儀器出現下列不正常狀況：
%3. 儀器不能自動關機；
%3. 不能測量；
%3. 按鍵不工作；
%3. 測量值反復無常。
%3. 請用戶勿拆機自修。填妥保修卡后，請將儀器寄至我公司維修部門，執行保修條例。 如果能將出現錯誤的情況簡單描述一下，一同寄出，我們將會非常感謝您。
4.%2 安全提示
本儀器的設計符合相關的安全標準。在使用時，要滿足所規定的外部環境條件，對于操作人員則要求具 備相應的技術背景，以保證安全操作。在將本儀器投入使用之前，請認真閱讀下面的安全提示：
| 注意：1. 本儀器是用于材料檢測的無損檢測儀器，不允許用作醫療儀器。 2. 本儀器于在實驗室和工業環境中使用。 |
系統電源
本儀器既可以通過外部電源適配器供電，也可以由鋰離子蓄電池供電。在選擇電源適配器和蓄電池時， 請使用我們推薦的產品。
電池充電和更換電池請參照我們的操作步驟進行操作。
系統軟件
任何軟件都避免不了出現錯誤，但我們力爭將這種錯誤出現的幾率降到。本儀器的軟件經過全面和 嚴格的測試。
意外故障
當出現下面非正常情況時，表明儀器已經出現故障，請關掉儀器電源，必要時將電池取出。并將儀器送 交的維修處進行維修。
%3. 儀器遭受明顯的機械性損傷（如運輸過程中受到嚴重擠壓或碰撞）；
%3. 儀器鍵盤或屏幕顯示不正常；
%3. 在高溫、高濕度或腐蝕性的環境中長時間存放；
附錄
附錄一用戶須知
一、 用戶購買本公司產品后，請認真填寫《保修登記卡》并請加蓋用戶單位公章。請將（一）聯和購機發票復印件寄回本公司用戶服務部，也可購機時委托售機單位代寄。（二）聯寄（留）當地分公司維修站辦理登記 手續。無維修站地區請用戶將（一）、（二）聯寄回本公司用戶服務部。手續不全時，只能維修不予保修。二、本公司產品從用戶購置之日起，一年內出現質量故障（非保修件除外），請憑“保修卡”（用戶留存聯）或購機發票復印件與本公司各地的分公司維修站聯系，維修產品、更換或退貨。保修期內，不能出示保修卡 或購機發票復印件，本公司按出廠日期計算保修期，期限為一年。
三、超過保修期的本公司產品出現故障，各地維修站負責售后服務、維修產品，按本公司規定核收維修費。四、公司定型產品外的“特殊配置”（異型探頭，專用軟件等），按有關標準收取費用。
五、凡因用戶自行拆裝本公司產品、因運輸、保管不當或未按“產品使用說明書”正確操作造成產品損壞， 以及私自涂改保修卡，無購貨憑證，本公司均不能予以保修。
附錄二操作一覽表
儀器的操作都是由面板按鍵直接觸發或者幾個按鍵組合出發實現的，下表給出了操作面板按鍵的具體圖 示和按鍵名稱、功能。
| 圖示 | 名稱 | 功能說明 | 章節 |
|
| 方向鍵 | 菜單模式下,左右鍵用于選擇功能組,上下鍵用于調整功能組中的 功能項選擇。全屏模式下,左右鍵專門用于移動閘門,上下鍵專門用 于加減增益。 | 3.1～3.15 |
|
| 飛梭按鈕 | 可以旋轉調節參數和改變選項內容，按下該旋鈕為<確定>功能 | 3.1～3.15 |
|
| 增益 | 按增益鍵，光標會轉移到增益值的位置，然后使用撥輪調節增益， 再按增益鍵，光標會轉移到增益步長的位置，然后使用撥輪調節增益步長。增益調整 范圍是 0dB~120dB 。增益步長是 0dB,0.1dB,0.5dB,1dB,2dB,6dB,12dB. | 3.17.2 |
|
| 閘門 | 按閘門鍵，屏幕可以快速切換到閘門 A 功能菜單，連線按此鍵可 使功能菜單在 A 閘門起始、A 閘門寬度、A 閘門高度三個功能間切換，可快速對相應功能進行調整。 |
3.17.9 |
|
| 自動增益 | 自動增益功能是一個快速調節儀器增益（dB）的工具，它可以自 動調整儀器的增益值，使得 A 閘門內捕捉到的回波峰值達到設定的屏幕高度，例如 80％。設定范圍在 10%～99% | 3.17.7 |
|
| 峰值記憶 | 按峰值記憶鍵，可啟動或關閉峰值記憶功能。 | 3.17.6 |
|
| 電源軟開關 | 開關儀器 | 2.2.1 |
附錄三. 焊縫探傷舉例
一．探傷檢測前的準備
1.數字超聲波探傷儀
2.橫波斜探頭： 5M13×13K2
3.標準試塊：CSK-IB 、CSK-3A 4． 30mm 厚鋼板的對接焊縫
5．DAC 參數：
（1）DAC 點數：d=5、10、15、20（mm）的 4 點
（2）判廢線偏移量：-4dB
（3）定量線偏移量：-10dB
（4）評定線偏移量：-16dB
6．耦合劑（如：機油等） 二．探測面的選擇
焊縫一側三．開機
1．將探頭和超聲探傷儀連接
2．開啟面板開關，開機自檢，進入探傷界面。四．校準
1．輸入材料聲速：3230m/s
2. 探頭前沿校準
（1）如圖 1 所示，將探頭放在 CSK－1B 標準試塊的 0 位上
（2）前后移動探頭，使試塊 R100 圓弧面的回波幅度，回波幅度不要超出屏幕，否則需要減小增益。
（3）當回波幅度達到時，保持探頭不動，在與試塊“0”刻度對應的探頭側面作好標記，這點就是波束 的入射點
（4）前沿距離校準：
從探頭刻度尺上直接讀出試塊“0”刻度所對應的刻度值，即為探頭的前沿值。（或用刻度尺測量圖 1 所示 L 值，前沿 x=100-L。）
3．探頭零點的校準
（圖 1）CSK-IA 試塊校測零點和前沿示意圖
按圖 1 的方法放置探頭，用閘門套住波，調整探頭零點直到聲程 S=100
4．探頭 K 值校準(折射角的校準)
由于被測物的材質和楔塊的磨損會使探頭的實際 K 值與標稱值有一些誤差。因此需要測定探頭的實際 K值。校準步驟如下：
（1）如圖 2 將探頭放在 CSK－1A 標準試塊的適當的角度標記上。
（2）前后移動探頭，找到試塊邊上大圓孔的回波波峰時，保持探頭不動。
（3）在試塊上讀出入射點與試塊上對齊的 K 值，這個角度為探頭的實際 K 值，將此值輸入。（或者通過計算斜率校準,當菜單焦點在探頭角度選項下的時候，按<凍結>鍵，菜單顯示“L=80.0”,可實際測量 L 值，利用+，
- 鍵輸入 L 值，然后再次<確認> 鍵，探傷儀將自動計算 K 值，見下圖 2）
X
L
35P
K=P+Xd =
50 °
60 °
70 °
（圖 2：折射角的校準）
五．制作 DAC 曲線
用 CSK－3A 試塊制作 DAC 曲線
步：移動探頭找到孔深為
10mm 的回波，并將 A 閘門套住此波，按“+”鍵，使標定點增加為“1”；
第二步：移動探頭找到孔深為
20mm 的回波，并將 A 閘門套住此波，按“+”鍵，使標定點增加為“2”；
此時已添加了 2 個標定點，
DAC 曲線已經生成。根據探傷需要，可以繼續找到孔深為 30、
40、50mm 等反射體的回波，使標定點增加為 3、4、5。第三步：輸入標準
在 DAC2 菜單上，將判費線偏移量設置為-4dB，定量線偏移量設置為-10dB，評定線偏移量設置為-16dB。
六．現場探傷
1．通過調整探傷靈敏度，使 DAC 曲線完整顯示在屏幕上，然后開始探傷。
2．探傷時一般是使探頭垂直焊口走向并沿焊口走向做鋸齒型掃查（即探頭運動軌跡為探頭）；
3．探頭沿焊口走向(前后)移動的距離：0~100mm（如：下圖） 計算方法：起點（位置 2）：0
終點（位置 2）：S=2KT=2×2×25=100mm(其中 K 表示探頭斜率，T 表示工件厚度)
4. 探頭沿焊口走向( 左右)移動的速度：≤1.5 米/分
七．存儲探傷波形和數據
將探傷波形和數據存儲到相應組號。
八．將與計算機連接，將探傷波形和數據上傳到計算機，生成探傷報告。
附錄四名詞術語
本附錄列出了本說明書中所涉及到的超聲無損檢測的名詞術語，了解這些術語所代表的確切含義，有助于更 好的使用本說明書。
1. 脈沖幅度：脈沖信號的電壓幅值。當采用 A 型顯示時，通常為時基線到脈沖峰頂的高度。
2. 脈沖長度：以時間或周期數值表示的脈沖持續時間。
3. 分貝：兩個振幅或者強度比的對數表示。
4. 聲阻抗：聲波的聲壓與質點振動速度之比，通常用介質的密度 p 和速度 c 的乘積表示。
5. 聲阻抗匹配：聲阻抗相當的兩介質間的耦合。
6. 衰減：超聲波在介質中傳播時，隨著傳播距離的增大，聲壓逐漸減弱的現象。
7. 總衰減：任何形狀的超聲束，其特定波形的聲壓隨傳播距離的增大，由于散射、吸收和聲束擴散等共同 引起的減弱。
8. 衰減系數：超聲波在介質中傳播時，因材質散射在單位距離內聲壓的損失，通常以每厘米分貝表示。
9. 缺陷：尺寸、形狀、取向、位置或性質對工件的有效使用會造成損害，或不滿足規定驗收標準要求的不 連續性。
10. A 型顯示：以水平基線（X 軸）表示距離或時間，用垂直于基線的偏轉（Y 軸）表示幅度的一種信息表示方法。
11. 發射脈沖：為了產生超聲波而加到換能器上的電脈沖。
12. 時基線：A 型顯示熒光屏中表示時間或距離的水平掃描線。
13. 掃描：電子束橫過探傷儀熒光屏所作同一樣式的重復移動。
14. 掃描范圍：熒光屏時基線上能顯示的聲程。
15. 掃描速度：熒光屏上的橫軸與相應聲程的比值。
16. 延時掃描：在 A 型或 B 型顯示中，使時基線的起始部分不顯示出來的掃描辦法。
17. 水平線性：超聲探傷儀熒光屏時間或距離軸上顯示的信號與輸入接收器的信號（通過校正的時間發生器
或來自已知厚度平板的多次回波）成正比關系的程度。
18. 垂直線性：超聲探傷儀熒光屏時間或距離軸上顯示的信號與輸入接收器的信號幅度成正比關系的程度。
19. 動態范圍：在增益調節不變時，超聲探傷儀熒光屏上能分辨的與最小反射面積波高之比。通常以分 貝表示。
20. 脈沖重復頻率：為了產生超聲波，每秒內由脈沖發生器激勵探頭晶片的脈沖次數。
21. 檢測頻率：超聲檢測時所使用的超聲波頻率。通常為 0.4 MHz ~15MHz。
22. 回波頻率：回波在時間軸上進行擴展觀察所得到的峰值間隔時間的倒數。
23. 靈敏度：在超聲探傷儀熒光屏上產生可辨指示的最小超聲信號的一種量度。
24. 靈敏度余量：超聲探傷系統中，以一定電平表示的標準缺陷探測靈敏度與探測靈敏度之間的差值。
25. 分辨力：超聲探傷系統能夠區分橫向、縱向或深度方向相距最近的一定大小的兩個相鄰缺陷的能力。
26. 抑制：在超聲探傷儀中，為了減少或消除低幅度信號（電或材料的噪聲），以突出較大信號的一種控制方法。
27. 閘門：為監控探傷信號或作進一步處理而選定一段時間范圍的電子學方法。
28. 衰減器：使信號電壓（聲壓）定量改變的裝置。衰減量以分貝表示。
29. 信噪比：超聲信號幅度與背景噪聲幅度之比。通常以分貝表示。
30. 阻塞：接收器在接收到發射脈沖或強脈沖信號后的瞬間引起的靈敏度降低或失靈的現象。
31. 增益：超聲探傷儀接收放大器的電壓放大量的對數形式。以分貝表示。
32. 距離波幅曲線（DAC）：根據規定的條件，由產生回波的已知反射體的距離、探傷儀的增益和反射體的大小，三個參量繪制的一組曲線。實際探傷時，可由測得的缺陷距離和增益值，從此曲線上估算出缺陷的 當量尺寸。
33. 耦合：在探頭和被檢件之間起傳導聲波的作用。
34. 試塊：用于鑒定超聲檢測系統特性和探傷靈敏度的樣件。
35. 標準試塊：材質、形狀和尺寸均經主管機關或機構檢定的試塊。用于對超聲檢測裝置或系統的性能 測試及靈敏度調整。
36. 對比試塊：調整超聲檢測系統靈敏度或比較缺陷大小的試塊。一般采用與被檢材料特性相似的材料制成。
37. 探頭：發射或接收（或既發射又接收）超聲能量的電聲轉換器件。該器件一般由商標、插頭、外殼、背 襯、壓電元件、保護膜或楔塊組成。
38. 直探頭：進行垂直探傷用的探頭，主要用于縱波探傷。
39. 斜探頭：進行斜射探傷用的探頭，主要用于橫波探傷。
附錄五有關超聲波探傷的國家標準和行業標準
及本說明書涉及到的超聲波探傷國家標準和行業標準有：
1、GB/T 12604.1–90 無損檢測術語 超聲檢測
2、JB/T 10061-1999 A 型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術條件
3、JJG 746-2004超聲探傷儀中華人民共和國國家計量檢定規程
裝箱卡
| 序號 | 名稱 | 數量 | 單位 |
| 1 | 探傷儀主機 | 1 | 臺 |
| 2 | 直探頭 | 1 | 只 |
| 3 | 斜探頭 | 1 | 只 |
| 4 | 電源適配器 | 1 | 個 |
| 5 | BNC 探頭連電纜 | 2 | 根 |
| 6 | 使用說明書 | 1 | 本 |
| 7 | 儀器箱 | 1 | 個 |
| 8 | 數據處理軟件 | 1 | 套 |
