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半導體芯片BiasHAST測試偏壓老化測試，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、...

接觸式高低溫芯片測試機 ，可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與傳統氣流式高低溫設備（熱流儀、溫箱等）相比具有升降溫效率高，操...

接觸式 冷熱臺 高低溫測試儀三溫臺 ，可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與傳統氣流式高低溫設備（熱流儀、溫箱等）相比具有升降...

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高低溫接觸式thermoplate，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與傳統氣流式高...

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熱流儀 LED 液晶顯示屏高低溫沖擊測試，ThermoTST高低溫沖擊熱流儀, 兼容各品牌光學檢測設備, 提供顯示行業 LCD, LCM, TV, monito...

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熱流儀高低溫氣流循環沖擊系統ATE測試應用，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與傳統...

HAST高加速應力測試BiasHAST，B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/...

冷熱臺冷熱沖擊機高低溫測試儀，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與傳統氣流式高低溫設...